हमारा समूह 1000 से अधिक वैज्ञानिक सोसायटी के सहयोग से हर साल संयुक्त राज्य अमेरिका, यूरोप और एशिया में 3000+ वैश्विक सम्मेलन श्रृंखला कार्यक्रम आयोजित करता है और 700+ ओपन एक्सेस जर्नल प्रकाशित करता है जिसमें 50000 से अधिक प्रतिष्ठित व्यक्तित्व, प्रतिष्ठित वैज्ञानिक संपादकीय बोर्ड के सदस्यों के रूप में शामिल होते हैं।

ओपन एक्सेस जर्नल्स को अधिक पाठक और उद्धरण मिल रहे हैं
700 जर्नल और 15,000,000 पाठक प्रत्येक जर्नल को 25,000+ पाठक मिल रहे हैं

Scanning Probe Microscopy

Scanning probe microscopy is a branch of microscopy that forms three dimensional images of surfaces and structures using a physical probe that scans the specimen. During the process of scanning, a computer collects the data that are used to provoke an image of the surface. Antoni van Leeuwenhoek was the first person to study the microscopic world. There are several types of SPMs. Atomic force microscopes , Magnetic force microscopes , and Scanning tunneling microscopes.

Related journals of Scanning Probe Microscopy Journal of Scanning Probe Microscopy; Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films; Scanning Probe Microscopy of Serpin Polymers